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关于我们 Aboutus

 

Particle Sizing System (美国PSS粒度仪公司)是一家专注于帮客 户解决粒度问题近40年的专业科技公司,公司总部位于美国佛罗里达州圣巴巴拉市,公司自1977年创 立以来,一直为颗粒检测分析领域提供技术领先的仪器设备。

 

公司总部位于加利福尼亚洲的圣巴巴拉,有5个应用中心或销售代表处 分布在世界各地,每个中心或代表处都配备应用/技术支持、销售和服务人员。此外,我们还有40多个 分销商或销售代理公司遍布在美国、欧洲及亚洲各地。

 

PSS生产的颗粒检测和分析仪器分别采用动态光散射技术(dynamic light scattering, DLS)和光阻法(Light obscuration or light extinction,  也有人称之 为“消光法”,)技术以及专利的单颗粒(Single Particle Optical Sizing, SPOS)技 术,检测范围从纳米到微米级,既可以检测平均粒径,zeta电位值,又可以对产品中的颗粒进行计数 ,尤其对于其他光散射或者光衍射方法检测不到的极少数的大粒子(Large Particle Count, LPC), 可以精准地检测出。目前PSS粒度仪是市场上*一家能够提供高分辨率的自动单颗粒技术的粒径分析 仪。

 

PSS独有专利的单颗粒(SPOS)技术,能对样品的颗粒数目进行量化, 打破了科技界以往通过光散射和光衍射方法只能检测均粒径分布的局限,不仅能检测颗粒大小,更能 对颗粒进行计数。这给了研究、生产和质控人员对样品中颗粒的大小、数目一个清晰明了的结果,大 大助力于其研发和生产。

 

PSS的团队由科学家和工程师组成,可以提供从实验室到生产流水线的 多种技术解决方案。如果您有粒度检测、分析或颗粒度问题困扰,欢迎随时来函来电垂询。

 

公司创始人 Dr.David F. Nicole

     David F. Nicoli自哈佛大学攻读博士学位起就致力于动态光散射理论在生物大分子领域与胶体分散体系的应用研究,在相关研究领域是世界 著名专家,并首创动态光散射理论在纳米粒子检测方面的应用,目前已取得了卓越的成就,并在乳剂 制剂质量控制方面有着十分丰富的经验。

公司历史

 

  • 1977NICOMP在美国圣芭芭拉加 州大学成立
  • 1983 NICOMP转让给太平洋科技
  • 1983-1990太平洋持有NICOMP股权
  • 1990ParticleSizing Systems 从太平洋科技收购NICOMP
  • 2008-JulyParticle Sizing Systems 被安捷伦公司收购
  • 2009-August Particle Sizing Systems重组, 从安捷伦购回
  • 2010Particle Sizing Systems 在日本开设亚太区销售办事处
  • 2011Particle Sizing Systems 在中国上海成立PSS卓越中心

 

 

服务领域

 

粒度检测分析和Zeta电位测定涉及众多行业和领域,粒度检测分析在 很多领域都是必不可少的,从食品行业的软饮料、乳液到半导体制造业的化学机械抛光过程(CMP), 无不需要颗粒检测分析。

 

能否获得真实的检测分析数据往往决定公司的盈利水平,甚至影响到 公司的盈利底线。

 

我们先进的模块化设计仪器设备能满足各种不同需求,为用户降低生 产成本和提高生产效率提供有力保证。

 

PSS系列产品使用独有的专利技术和优秀的工业设计及模块化生产,不 但使用方便而且利于维护,在药物检测,半导体生产,生物,医药,涂料,墨水,纯水,环境监测, 化工,印染,磨料等行业得到了广泛地应用。在很多领域已经成为了事实上的行业标准。

 

 

主要产品

 

美国PSS粒度仪公司拥有4个系列颗粒检测分析产品,分别是:1) Nicomp 380系列,利用动态光散射原理检测平均粒径,检测范围0.3纳米-10微米;2)AccuSizer 780 系列,利用光阻法和单颗粒技术检测粒径和精确的粒子数量,检测范围0.5微米-2500微米;3) AccuSizer FX系列,利用单颗粒技术和集束波技术检测粒子粒径和粒子数量,检测范围0.15微米-20微 米;4)工业在线用系列,利用成熟的单颗粒技术和模块化设计,可以实时在线检测生产过程,大幅度 减少分析检测时间和成本,主要用于CMP制程中的slurry的监测。

 

Nicomp 380系列产品

 

Nicomp 380系列粒度仪采用动态光散射原理检测分析颗粒的粒度和粒 度分布,主要用于检测纳米级别的体系和其他胶体体系,其粒径检测范围0.3 nm-10μm。

核心技术包括基于数字信号处理(DSP)的相关器及其拥有专利技术的 Nicomp精准算法,对于多组分、粒径分布不均匀的分散体系的检测具有独特优势。强大的相关器和精 确的算法使得Nicomp 380系列粒度仪的粒度分布解析度在同类产品中遥遥领先。

Nicomp 380系列仪器采用模块化设计,有许多可供选择的组件和模块 ,如:拥有专利的自动稀释系统、自动进样系统、在线进样系统、多角度监测系统和各种激光器/检测 器。

 

Nicomp 380ZLS系列产品在粒径检测模块的基础上增加了Zeta 电位模 块,不仅能进行粒度检测分析,还能测定亚微米级分散体系的Zeta 电位,并且拥有与Nicomp 380相同 的高解析度。

Nicomp 380ZLS亚微米粒径电位检测仪拥有一些独特的功能,其中的 Zeta频率模式功能,可对检测出的峰值提供图形化的展示,给仪器的运行和高盐样品提供了一个极稳 定的有机相分析。

Nicomp 380ZLS系列同样采用模块化设计,可供选择的模块有自动滴定 仪以及拥有专利的稀释系统等,以满足用户的不同测试需求。

 

AccuSizer  780系列产品

 

       往往极小的离群值是判定产品合格与否的关键点,但是 传统的激光衍射方法和激光散射方法均无法从海量的小粒子中检测出是否有大离子存在。

 

       AccuSizer 780系列仪器不会错过任何“尾部 ”大颗粒。这主要得益于其采用光阻法结合单颗粒检测分析技术来计数并测量颗粒粒度分布,其 粒径测量范围从0.5微米到2500微米。其超高的解析度、灵敏度以及大范围的粒径检测分析范围是同类 其它仪器无法比拟的。

 

无论是其专利技术的传感器还是专利的进样系统,AccuSizer系列产品 都将会给您带来无以伦比的优势。自AccuSizer 780系列仪器诞生,以往以牺牲精确性和分辨率来换取 检测速度和易用的历史一去不复返了。

 

AccuSizer FX 系列产品

 

较早研制的AccuSizer FX 集束计数粒径检测仪是一个新生代的粒度检 测系统,采用了AccuSizer 系列产品的基本技术和原理,但在光学检测方面进行了重新设计,使其能 检测分析更高浓度的样品。这种新技术灵敏度要比传统的传感器高出几百倍。其检测范围从0.15微米 -20微米。

该系列产品特别适合于检测分析粒度分布的尾部信息,如:胶体分散 系统、乳液以及化学机械研磨浆液(CMP)等。

 

Online工业用在线系列产品

      

       美国PSS粒度仪公司的自动稀释专利技术的高精确性、准 确性、高分辨率和重复性好的特点已经广为人知,我们也将此技术优势从实验室应用转移到了生产线 检测。在线检测仪利用计算机控制流体进样装置来对在线样品进行取样,并将其自动引入到自动稀释 系统中。和实验室应用一样,样品可以被自动稀释到单颗粒检测技术(SPOS)所要求的Z佳浓度,整 个检测过程不需考虑样品的原始浓度和粒度分布。在线监测仪得到的粒度分布结果和在实验室中获得 的数据是一致的,不必再利用复杂算法和统计工具来对实验室数据和在线结果进行比较。

 

自动稀释模块是我们所有实验仪器的功能非常完整的单独模块之一, 其中AccuSizer 780单颗粒(SPOS技术)采样器和Nicomp 380亚微粒采样器都应用了此种模块。这些实 验仪器经过重新设计和制造以满足在线检测过程中所要求的极端的环境,而使用强化的组件可以满足 美国电气协会的不同级别要求,从除尘、防水外壳到防爆外壳应用,我们的产品可以应对极端恶劣的 工作环境,包括在高压和零度以下的恶劣环境中正常工作。

 

通过与特定软件进行配合,我们还提供多通道监测系统,以实现在线 检测中的多点监控。在确保符合质控要求的前提下,我们的仪器可通过较大限度地覆盖检测范围从而 大幅降低成本。使用者可以从基于Windows控制器的嵌入式模式和很多控制系统中常用的程控逻辑控制 器(PLC)中任意选择一种来使用。数据可以直观地呈现在屏幕上,也可以以ASCII文件形式存储。它 可以提供无限的后处理数据分析,在任何的电脑上都可以进行数据查看和处理。

 

AccuSizer 780/OL系统能够测定“尾部”微量的大颗粒。 通过测定仅有百分之几含量的极少的特定粒子(这些粒子可能离平均粒径的主峰只有几个标准偏差) ,它可以直观地告诉一个产品合格与否。也可以用来测定大颗粒粉末中的细小颗粒。这些小颗粒在决 定产品的粘性、流动性和其他特性中扮演着非常重要的作用。

电话:
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